-
德圖食品檢測儀器
-
德圖溫濕度記錄儀
-
過氧化氫監(jiān)測儀
-
自動進樣器
-
分散/均質(zhì)機
-
布魯克近紅外光譜儀
-
布魯克紅外光譜儀
-
水分活度儀
-
相機
-
高清數(shù)字攝像頭
-
顯微鏡
-
色譜保護柱
-
食品飼料農(nóng)業(yè)設(shè)備
-
放射性水樣全自動前處理儀
-
原子熒光水質(zhì)重金屬在線監(jiān)測儀
-
水質(zhì)在線離子色譜儀
-
糧食不完善粒分析儀
-
熒光成像系統(tǒng)
- 液相色譜系統(tǒng)
-
LVBO產(chǎn)品線
-
賽默飛溫控產(chǎn)品線
-
賽默飛產(chǎn)品線
-
加拿大nanalysis產(chǎn)品
-
Ruicheng產(chǎn)品線
- 實驗室常用儀器
-
快速測量儀器
- 君勒鉑產(chǎn)品線
- 生化類儀器
- 物性測試儀器及設(shè)備
- 光學(xué)測量儀
布魯克的納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier專為在緊湊的平臺內(nèi)提供業(yè)界**的定量納米力學(xué)表征而設(shè)計。納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier以久經(jīng)考驗的 Hysitron 技術(shù)為基礎(chǔ)，提供一套廣泛的納米級力學(xué)和摩擦測試技術(shù)。利用納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier的多功能配置，可以完成對各種**研究的準(zhǔn)確測量，同時提供多種技術(shù)升級選項，以滿足您未來表征需求。
**的控制和靈敏度
專有電容傳感器技術(shù)在納米壓痕測試過程中提供**的測量噪聲水平（75 nN，<0.2 nm）、精度和可靠性。靜電驅(qū)動使用很少的電流，實現(xiàn)**的溫度漂移特性，從而加快數(shù)據(jù)采集速度，獲得更高精度和更好的重復(fù)性。
（100） 硅上的五個載荷納米壓痕系列測試，顯示了納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier業(yè)界**的噪聲水平、性能和數(shù)據(jù)可重復(fù)性。
定量表征能力
布魯克開發(fā)了一套廣泛的定量表征技術(shù)，實現(xiàn)強大的納米級材料研究。
動態(tài)力學(xué)分析： 存儲模量、損耗模量和損耗角作為測量深度、頻率和時間的函數(shù)。
摩擦學(xué)： 摩擦系數(shù)、耐刮擦性能、薄膜粘附力和納米級磨損。
表面形貌表征： 原位SPM成像，光學(xué)顯微鏡觀察和表面力學(xué)性能成像。
電特性： 原位接觸電阻、導(dǎo)電、相變和材料變形行為。
環(huán)境控制： 在高溫和可定制的氣態(tài)環(huán)境中，表征納米力學(xué)和納米摩擦性能。
熔融石英上的力與位移曲線顯示彈塑性材料的典型響應(yīng)，并在準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕測試后通過原位SPM成像，顯示殘余壓痕形貌。
實現(xiàn)特定功能的程序包
布魯克的納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier提供針對準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕、動態(tài)表征、高溫表征和跨尺度測試等量身定制的特定功能程序包。這些程序包的配置經(jīng)過優(yōu)化，可提供專用解決方案，以滿足您的研究和過程控制要求。
準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕：針對薄膜和不均勻材料優(yōu)化的納米力學(xué)特性。
動態(tài)特征：準(zhǔn)靜態(tài)和動態(tài)機械特性，可對從超軟到超硬等各種材料進行表征。
高溫特性：研究機械特性和時間基于溫度的變形行為。
跨尺度測試：在納米和微米尺度上的納米壓痕測試。
350°C（紅色）、500°C（綠色）和600°C（紫色）時的 NiCoCrAlY 載荷-位移曲線。這些曲線的低離散性和常規(guī)形狀表明 納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier在高溫下的高穩(wěn)定性。
